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SBJDCS系列高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀選型 功能升級 |
發(fā)布者：揚(yáng)州市拓騰電氣有限公司 發(fā)布時間：2016/11/5 |
SBJDCS-A/B/B+/C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。
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